Článek našeho výzkumníka byl publikován v časopise Infrared Physics & Technology

06.04.2020

Náš výzkumník Alexey I. Moskovchenko je spoluautorem (prvním autorem) článku v renomovaném odborném časopise Infrared Physics & Technology: A.I. Moskovchenko, V.P. Vavilov, A.O. Chulkov, Comparing the efficiency of defect depth characterization algorithms in the inspection of CFRP by using one-sided pulsed thermal NDT. Na článku spolupracoval s výzkumníky z Tomsk Polytechnic University v Rusku.

Článek je dostupný zde.