Článek Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method v časopise Infrared Physics and Technology

31.08.2015

V časopise Infrared Physics and Technology vyšel náš článek: Veselý Z., Honnerová P., Martan J., Honner M., Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method. Infrared Physics and Technology, Vol. 71, 2015, pp. 217-222.

Abstrakt:

Představen je počítačový model pro rozložení teploty ve vzorku při měření spektrální normálové emisivity za vysoké teploty. Pro určení vlivu různých parametrů metody na teplotu vzorku se provádí citlivostní analýza s využitím počítačového modelování. Je analyzován vliv tloušťky měřeného a referenčního povlaku, emisivity měřené vrstvy a povrchové teploty vzorku při měření. Ukázáno je využití teplotního rozdílu mezi povrchem referenčního povlaku a rozhraním referenčního a měřeného povlaku na celkovou nejistotu emisivity měřeného povlaku.