Patent "Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů"

08.12.2016
Úřad průmyslového vlastnictví nám dne 19.10.2016 udělil a dne 30.11.2016 publikoval národní patent "Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů". Původci jsou M. Honner a Z. Veselý. Více v národní patentové databázi