Zařízení pro měření teplotních závislostí spektrální emisivity povlaků při vysokých teplotách

Popis výsledku

Zařízení pro měření teplotních závislostí spektrální emisivity povlaků

Metoda umožňuje měření teplotní závislosti spektrální emisivity povlaků až do teploty 1000°C. Jedná se o metodu využívající špičkové laboratorní zařízení minimálně evropského významu. Zařízení sestává z FTIR spektrometru, vysokoteplotního černého tělesa, termovizní kamery, výkonného laseru a různých optomechanických komponent. Měřený vzorek je umístěný v tepelné izolaci na polohovatelném mechanismu. Největšími inovacemi v tomto zařízení jsou způsob ohřevu vzorku a měření povrchové teploty. Ohřev vzorku je zajištěn laserem a je výrazně rychlejší než jiné způsoby ohřevu. Požadované teploty vzorku v rozsahu 300 až 1000°C je dosaženo regulací výkonu laseru. Povrchová teplota vzorku je snímána bezkontaktně s použitím termovizní kamery a referenčního povlaku (LabIR paint) aplikovaného na část analyzovaného povlaku. Takovéto uspořádání umožňuje přesné měření emisivity i pro povlaky s velkou tloušťkou a nízkou tepelnou vodivostí. Spektrální závislost emisivity povlaků je měřena FTIR spektrometrem vůči černému tělesu umístěnému proti měřenému vzorku. Výběr mezi vzorkem a černým tělesem je proveden rotačním parabolickým zrcadlem. Více informací

Přínos pro zákazníka

  • Umožňuje analyzovat základní veličinu emisivity, ze které lze vypočítat další veličiny emisivity
  • Slouží jako vstupní parametr do úloh počítačového modelování šíření tepla radiací
  • Ekonomické přínosy vyplývající ze znalosti spektrálního a vysokoteplotního chování materiálu

Reference

SCG Chemicals Co., Ltd., Thajsko

Integrated Global Services, USA

Aremco Products Inc., USA

Technip Benelux B.V., Nizozemsko

Ghent University, Belgie

BG SYS HT s.r.o., Česká republika

Kontaktní osoba

Petra Honnerová
Ing. Petra Honnerová, Ph.D.
Telefon: +420 377 634 719
Email: petrahon@ntc.zcu.cz
ResearchGate