Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů

Popis výsledku

Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů

Metoda umožňuje měření totální emisivity materiálů do vysokých teplot. Využívá měření radiačního tepelného toku analyzovaného povrchu a černého tělesa k vyhodnocení totální hodnoty emisivity. Měření se provádí za různých teplot a výsledkem je teplotní závislost totální hodnoty emisivity.

Analyzovaný materiál je ohříván laserovým svazkem. Bezkontaktním způsobem je snímán radiační tepelný tok z povrchu materiálu. Na části povrchu je nanesen referenční termovizní povlak (LabIR paint) k zajištění vysoké a známé hodnoty emisivity. Z této části povrchu je bezkontaktně snímána povrchová teplota. Záznam radiačního tepelného toku a povrchové teploty vzorku materiálu umožňuje stanovit relativní totální emisivitu analyzované materiálu. Ze znalosti záření černého tělesa na teplotě stejné jako teplota povrchu analyzovaného materiálu lze z relativní hodnoty emisivity získat hodnotu absolutní.

Přínos pro zákazníka

  • Slouží jako vstupní parametr do úloh počítačového modelování šíření tepla radiací
  • Umožňuje provádět modifikace povrchů a vysokoteplotní měření povrchové teploty bezkontaktním způsobem
  • Ekonomické přínosy vyplývající se znalosti vysokoteplotního chování materiálu

Patent

ZÁPADOČESKÁ UNIVERZITA V PLZNI. Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů. Vynálezci: M. Honner a Z. Veselý. Česká republika. Patentový spis CZ 306316 B6. 19.10.2016.

Reference

BG SYS HT s.r.o., Česká republika

Kontaktní osoba

Zdeněk Veselý
Ing. Zdeněk Veselý, Ph.D.
Telefon: +420 377 634 832
Email: zvesely@ntc.zcu.cz
LinkedIn
ResearchGate