Zařízení pro měření teplotních závislostí spektrální emisivity povlaků

Bylo vyvinuto špičkové laboratorní zařízení minimálně evropského významu, které umožňuje měřit teplotní závislost spektrální emisivity povlaků. Zařízení sestává z FTIR spektrometru, vysokoteplotního černého tělesa, termovizní kamery, výkonného laseru a různých optomechanických komponent. Měřený vzorek je umístěný v tepelné izolaci na polohovatelném mechanismu. Největšími inovacemi v tomto zařízení jsou způsob ohřevu vzorku a měření povrchové teploty. Ohřev vzorku je zajištěn laserem a je výrazně rychlejší než jiné způsoby ohřevu. Požadované teploty vzorku v rozsahu 300 až 1000°C je dosaženo regulací výkonu laseru. Povrchová teplota vzorku je snímána bezkontaktně s použitím termovizní kamery a referenčního povlaku aplikovaného na část analyzovaného povlaku. Takovéto uspořádání umožňuje přesné měření emisivity i pro povlaky s velkou tloušťkou a nízkou tepelnou vodivostí. Spektrální závislost emisivity povlaků je měřena FTIR spektrometrem vůči černému tělesu umístěnému proti měřenému vzorku. Výběr mezi vzorkem a černým tělesem je proveden rotačním parabolickým zrcadlem.

Uvedené zařízení bylo použito při spolupráci s francouzskou národní laboratoří (LNE), publikováno v mezinárodním vědeckém časopise a získalo například kontrakt pro měření speciálních vysokoteplotních povlaků z USA (Aremco Products).

Bližší informace k zařízení a metodě měření jsou uvedeny na stránkách laboratoře měření optických vlastností.